快速掃描探針顯微鏡有這么多實用性，確定要錯過嗎？
更新時間：2023-03-07瀏(liu)覽(lan)：922次
快速掃描探針顯微鏡是一(yi)種(zhong)新(xin)型的(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)針顯(xian)(xian)(xian)微鏡(jing)，是從掃(sao)(sao)描(miao)(miao)隧道(dao)顯(xian)(xian)(xian)微鏡(jing)的(de)(de)(de)(de)基(ji)礎上(shang)發展起來的(de)(de)(de)(de)各種(zhong)新(xin)型探(tan)(tan)針顯(xian)(xian)(xian)微鏡(jing)（原(yuan)子力顯(xian)(xian)(xian)微鏡(jing)，靜電力顯(xian)(xian)(xian)微鏡(jing)，磁力顯(xian)(xian)(xian)微鏡(jing)，掃(sao)(sao)描(miao)(miao)離子電導顯(xian)(xian)(xian)微鏡(jing)，掃(sao)(sao)描(miao)(miao)電化學(xue)顯(xian)(xian)(xian)微鏡(jing)等）的(de)(de)(de)(de)統(tong)稱。基(ji)本(ben)工作(zuo)原(yuan)理(li)(li)是利用(yong)(yong)探(tan)(tan)針與樣品(pin)(pin)表(biao)面原(yuan)子和分子之間的(de)(de)(de)(de)相互(hu)作(zuo)用(yong)(yong)，即當探(tan)(tan)針與樣品(pin)(pin)表(biao)面接(jie)近納米尺度(du)時，形成各種(zhong)相互(hu)作(zuo)用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)物理(li)(li)場，通過檢測相應的(de)(de)(de)(de)物理(li)(li)量，得到樣品(pin)(pin)的(de)(de)(de)(de)表(biao)面形貌。掃(sao)(sao)描(miao)(miao)探(tan)(tan)針顯(xian)(xian)(xian)微鏡(jing)由探(tan)(tan)頭、掃(sao)(sao)描(miao)(miao)儀、位移傳感器、控制(zhi)器、檢測系統(tong)和圖像系統(tong)組(zu)成。
快速掃描探針顯微鏡的特點：
1、除了場(chang)離子(zi)顯(xian)(xian)微鏡(jing)和高分(fen)(fen)辨率(lv)透射電子(zi)顯(xian)(xian)微鏡(jing)外，掃描探針(zhen)顯(xian)(xian)微鏡(jing)是在場(chang)離子(zi)顯(xian)(xian)微鏡(jing)和高分(fen)(fen)辨率(lv)透射電子(zi)顯(xian)(xian)微鏡(jing)后(hou)，在原子(zi)尺度上(shang)觀(guan)(guan)察物質結構(gou)的(de)第三類顯(xian)(xian)微鏡(jing)。以掃描隧道顯(xian)(xian)微鏡(jing)（STM）為例，其(qi)橫向(xiang)分(fen)(fen)辨率(lv)為0.1~0.2nm，縱(zong)向(xiang)深度分(fen)(fen)辨率(lv)為0.01nm，可以清晰地觀(guan)(guan)察到分(fen)(fen)布在樣品表面(mian)的(de)單個原子(zi)或分(fen)(fen)子(zi)。同時(shi)，在空氣(qi)、其(qi)他氣(qi)體或液體環境中也(ye)可以觀(guan)(guan)察到掃描探針(zhen)顯(xian)(xian)微鏡(jing)。
2、掃(sao)描(miao)探針顯(xian)微(wei)鏡(jing)具有原(yuan)(yuan)子(zi)(zi)(zi)分(fen)辨率(lv)、原(yuan)(yuan)子(zi)(zi)(zi)輸運、納米微(wei)加工(gong)等(deng)特點，但由(you)于(yu)各(ge)種(zhong)掃(sao)描(miao)顯(xian)微(wei)鏡(jing)的(de)(de)工(gong)作(zuo)原(yuan)(yuan)理(li)不(bu)同(tong)，其結果反(fan)映了樣品(pin)(pin)表面的(de)(de)不(bu)同(tong)信(xin)息(xi)。掃(sao)描(miao)隧(sui)道顯(xian)微(wei)鏡(jing)(STM)測量樣品(pin)(pin)表面的(de)(de)電子(zi)(zi)(zi)工(gong)位(wei)的(de)(de)分(fen)布信(xin)息(xi)，該信(xin)息(xi)具有原(yuan)(yuan)子(zi)(zi)(zi)分(fen)辨率(lv)，但仍不(bu)能獲得樣品(pin)(pin)的(de)(de)真(zhen)實(shi)結構。原(yuan)(yuan)子(zi)(zi)(zi)顯(xian)微(wei)鏡(jing)檢測原(yuan)(yuan)子(zi)(zi)(zi)間相(xiang)(xiang)互(hu)作(zuo)用的(de)(de)信(xin)息(xi)，從而獲得原(yuan)(yuan)子(zi)(zi)(zi)在樣品(pin)(pin)表面排列的(de)(de)信(xin)息(xi)，這是樣品(pin)(pin)的(de)(de)真(zhen)實(shi)結構。另一方(fang)面，原(yuan)(yuan)子(zi)(zi)(zi)力顯(xian)微(wei)鏡(jing)無法(fa)測量與理(li)論(lun)相(xiang)(xiang)比(bi)較的(de)(de)電子(zi)(zi)(zi)狀(zhuang)態信(xin)息(xi)，因此它們各(ge)自具有較短的(de)(de)長(chang)度。
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