NP-AFM原子力顯微鏡

主要優勢：

1、全(quan)新(xin)設計的KMD運動學結(jie)構，降低了噪音水平，輕松實現原(yuan)子級分辨率。

2、提供可視化(hua)下針系統，操(cao)作簡單，對(dui)新(xin)手(shou)友好(hao)。

3、提高了掃描速度，10秒出圖。

1.標準工作模式：

1.1輕敲(qiao)模式(Vibration mode)

1.2接(jie)觸模式 (Contact mode)

1.3相位成(cheng)像模(mo)式 (Phase imaging)

1.4橫(heng)向力模式(shi) (Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲線測(ce)試（Force curve）可測(ce)楊氏模量

1.6 納米操控(kong) （Nanomanipulation）

1.7 納米刻(ke)蝕(shi) （Nanolithography）

1.8 力矩陣模式 （Force Mapping）

1.9 摩擦力測試 （Friction Mode）

2. 可(ke)選工(gong)作模式：

2.1 磁(ci)力(li)顯(xian)微鏡模式（MFM mode）

2.2 靜(jing)電力顯(xian)微鏡模式(shi)（EFM mode）

2.3 導電(dian)顯微鏡(jing)模式（C-AFM mode）

2.4 液相模式(shi) （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專門從事設計和(he)制造原子(zi)力顯微(wei)(wei)鏡的(de)專業化公司 。公司創始人是有30年原子(zi)力顯微(wei)(wei)鏡經驗的(de) Paul West博士，原子(zi)力顯微(wei)(wei)鏡教材(cai)《Atomic Forces Microscopes》的(de)作者。

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μmZ方向范圍：17 μm，7 μmXY方向驅動分辨率：0.01 nmZ方向驅動分辨率：0.003 nmZ方向測量噪音水平：0.03 nm樣品尺寸：直徑25