HR-AFM原子力顯微鏡

主要優勢：

1、全新(xin)設計的KMD運動學結(jie)構，降(jiang)低了噪音水平，輕松實(shi)現原子(zi)級分辨率。

2、提供可(ke)視化下針(zhen)系統，操作簡單(dan)，對新(xin)手友好。

3、提高(gao)了掃描速(su)度，10秒出圖。

1.標準工作模式：

1.1輕敲模(mo)式(Vibration mode)

1.2接(jie)觸模式 (Contact mode)

1.3相位成像模式 (Phase imaging)

1.4橫向力模(mo)式 (Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲線測(ce)試(shi)（Force curve）可測(ce)楊(yang)氏模量

1.6 納米操控(kong) （Nanomanipulation）

1.7 納米刻蝕 （Nanolithography）

1.8 力矩陣模式 （Force Mapping）

1.9 摩擦力測試 （Friction Mode）

2. 可選工(gong)作(zuo)模式：

2.1 磁力顯微鏡模(mo)式（MFM mode）

2.2 靜電力(li)顯(xian)微鏡(jing)模式（EFM mode）

2.3 導電顯微鏡(jing)模式（C-AFM mode）

2.4 液(ye)相模式(shi) （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是(shi)專門(men)從事設計和制造原子力顯(xian)微(wei)(wei)鏡的(de)專業化公(gong)司 。公(gong)司創始人是(shi)有30年原子力顯(xian)微(wei)(wei)鏡經(jing)驗的(de) Paul West博(bo)士，原子力顯(xian)微(wei)(wei)鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的(de)作者。

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μmZ方向范圍：17 μm，7 μmXY方向驅動分辨率：0.01 nmZ方向驅動分辨率：0.003 nmZ方向測量噪音水平：0.03 nm樣品尺寸：直徑25