TT2-AFM原(yuan)子力顯微鏡

1.標準工作模式：

1.1輕敲模(mo)式(Vibration mode)

1.2接觸(chu)模式(Contact mode)

1.3相位成(cheng)像模式(Phase imaging)

1.4橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲線(xian)測試（Force curve）可測楊(yang)氏模量

1.6納米操控 （Nanomanipulation）

1.7納米刻(ke)蝕 （Nanolithography）

1.8力矩陣模式 （Force Mapping）

1.9摩(mo)擦(ca)力(li)測試 （Friction Mode）

2. 可選(xuan)工(gong)作模式(shi)：

2.1 磁力(li)顯微鏡模(mo)式（MFM mode）

2.2 靜(jing)電力顯微鏡模式（EFM mode）

2.3 導電顯微鏡模式(shi)（C-AFM mode）

2.4 液(ye)相模式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是(shi)專門(men)從事設計和制造原(yuan)(yuan)(yuan)子(zi)力(li)(li)顯微鏡的專業化(hua)公司 。公司創始(shi)人是(shi)有(you)30年原(yuan)(yuan)(yuan)子(zi)力(li)(li)顯微鏡經驗的 Paul West博士，原(yuan)(yuan)(yuan)子(zi)力(li)(li)顯微鏡教材(cai)《Atomic Forces Microscopes》的作者。

掃描范(fan)圍：100 μm，50 μm，15μmZ方向范圍：17 μm，7 μmXY方向驅動分辨率：0.01 nmZ方向驅(qu)動分辨(bian)率：0.003 nmZ方(fang)向(xiang)測(ce)量噪音(yin)水平：0.15 nm樣品尺寸：直徑25mm