葛蘭帕國產版HR-AFM原子力顯微鏡是一款專業級的高分辨率原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。

葛蘭帕國產版HR-AFM原子力顯微鏡標準工作模式：

輕敲(qiao)模(mo)式(Vibration mode)，接(jie)觸模(mo)式 (Contact mode)，相位成像(xiang)模(mo)式 (Phase imaging)，橫向力模(mo)式 (LFM)，力曲線測(ce)試（Force Curve），納(na)米操控 （Nanomanipulation），納(na)米刻(ke)蝕(shi) （Nanolithography），力矩陣模(mo)式 （Force Mapping），摩擦力測(ce)試 （Friction Mode）

可(ke)選工作(zuo)模式：導電原子力顯(xian)微(wei)鏡(jing) （C-AFM），磁力顯(xian)微(wei)鏡(jing)（MFM），靜電力顯(xian)微(wei)鏡(jing)（EFM）,掃(sao)描電勢顯(xian)微(wei)鏡(jing)（SKPM）。

設(she)備具有軟件自(zi)動(dong)進(jin)針功能(neng)。通過(guo)軟件控制Z方向馬達實(shi)現探針自(zi)動(dong)進(jin)針。

X,Y,Z三(san)軸(zhou)分(fen)離的掃描器。

掃(sao)描范圍(wei) 100×100×17μm

Z軸分辨率0.035nm

樣品臺尺寸(cun)：25mm*25mm*18mm 

操(cao)作軟件：使用(yong)Laview環境語言控(kong)制，免費提供(gong)操(cao)作軟件，并提供(gong)維護及(ji)升級。提供(gong)Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數據分析系統

頂視(shi)系統光(guang)學分(fen)辨率(lv)(lv)≤2微米，視(shi)場范圍從2mm*2mm到300um*300um可調，放大倍(bei)率(lv)(lv)從45倍(bei)到400倍(bei)機械可調。

側(ce)視系統(tong)，提供可(ke)視化(hua)下(xia)針(zhen)，可(ke)以通(tong)過電腦精確(que)觀察控制(zhi)下(xia)針(zhen)過程，防(fang)止撞針(zhen)。