快速掃描探針顯微鏡（ScanningProbeMicroscope，SPM）是一種高分辨率的顯微鏡，能夠實現對樣品表面的原子級成像和表征。采用探針在樣品表面掃描的方式，通過測量探針與樣品之間的相互作用力來獲取表面拓撲和性質信息。
1.原(yuan)子力(li)(li)顯微鏡（AFM）：通過探測(ce)探針與樣(yang)品(pin)表面之間的(de)范德華力(li)(li)、靜電力(li)(li)、化學鍵力(li)(li)等(deng)相互作用力(li)(li)，實現對(dui)樣(yang)品(pin)表面形(xing)貌和力(li)(li)學性質的(de)高分辨(bian)成(cheng)像。
2.掃描隧道(dao)顯微鏡（STM）：利(li)用量子隧道(dao)效應，通過(guo)測量探針與樣品(pin)表面(mian)(mian)之間的電(dian)子隧道(dao)電(dian)流來實現對樣品(pin)表面(mian)(mian)原(yuan)子級拓撲和電(dian)子性質(zhi)的成像(xiang)。
應(ying)用領域：
1.納米(mi)材(cai)料研究：用(yong)于表征納米(mi)材(cai)料的結構、形貌、力學性質等，為(wei)納米(mi)材(cai)料的設(she)計和制備提供重(zhong)要信息。
2.生物(wu)醫學(xue)：用于觀察(cha)生物(wu)分子、細胞和(he)組織(zhi)的微觀結構(gou)，研究生物(wu)分子的相互(hu)作用和(he)生物(wu)表面的性質。
3.表面科(ke)學：用于研(yan)究表面吸附、腐蝕(shi)、生長等過程，揭示表面結構和性質對材料性能的影響。
4.納米電(dian)子學：用(yong)于研(yan)究納米器(qi)件(jian)的電(dian)子輸運性質，開(kai)發新(xin)型納米電(dian)子器(qi)件(jian)。
快(kuai)速(su)掃描探針顯微(wei)鏡(jing)相比(bi)傳統顯微(wei)鏡(jing)具有以(yi)下優勢：
1.高分辨率：能夠實現原子(zi)級甚至亞原子(zi)級的成像，揭示樣品表面的微觀結構(gou)。
2.非破壞性：不需要對樣品進行特殊處理，可以(yi)在常(chang)溫、常(chang)壓下進行表征，不會破壞樣品。
3.多功能性(xing)(xing)：可實(shi)現表(biao)面(mian)形(xing)貌、力學性(xing)(xing)質(zhi)、電(dian)子性(xing)(xing)質(zhi)等(deng)多方面(mian)的表(biao)征(zheng)，適用于不同類型的樣品。
4.操(cao)作簡(jian)便：相對于(yu)傳統顯微鏡，操(cao)作相對簡(jian)單，易于(yu)使用。
QQ：
郵箱：
傳真：
地址：杭州市濱江區江南大道3778號元天科技大廈A6004室
