多功能掃描探針顯微鏡（ScanningProbeMicroscopy,SPM）是一種高分辨率的成像技術，廣泛應用于物理、化學、生物和材料科學等領域。與傳統光學顯微鏡不同，SPM通過使用微小的探針與樣品表面相互作用來獲得圖像和其他物理性質。這種方法使其能夠在原子和分子尺度上進行觀察，極大地擴展了科學研究的視野。
1.接觸模式（ContactMode）：
在(zai)接觸(chu)模式下，探針與樣品表面保持物理接觸(chu)。探針通(tong)過記(ji)錄髙(gao)度變(bian)化以生(sheng)成圖像。該模式適(shi)合(he)于較為(wei)堅硬的樣品，但(dan)可能會對樣品表面造成損傷。
2.非接觸模式（Non-ContactMode）：
在非(fei)接觸(chu)模(mo)式(shi)下(xia)，探針位于樣(yang)品表(biao)面上(shang)方(fang)，通過測量范(fan)德華力、靜電力等相互作用力進行成像(xiang)。這種模(mo)式(shi)對(dui)軟性材料非(fei)常(chang)友好。
3.力譜(pu)（ForceSpectroscopy）：
SPM不僅能(neng)夠(gou)提供圖像，還可(ke)以測量探(tan)針與樣(yang)品之間的相互(hu)作用力。通過改變探(tan)針與樣(yang)品間的距(ju)離(li)(li)，繪(hui)制出相應的力-距(ju)離(li)(li)曲線，可(ke)用于研究材料的力學性質。
多功能掃描探針顯微鏡的應用領(ling)域：
1.材料科(ke)學：
SPM用于表征(zheng)納米材料(liao)、聚合物和復合材料(liao)的(de)組(zu)織結構(gou)、形貌(mao)和力學性質等(deng)。
2.生物(wu)科學(xue)：
在生物材料、細胞(bao)和生物分子的研究中，SPM可以用(yong)來(lai)觀察細胞(bao)表面(mian)特(te)征及生物分子的相(xiang)互作用(yong)過(guo)程。
3.半導(dao)體和電子工(gong)程：
SPM可(ke)以研究微電子器(qi)件(jian)的表(biao)面缺陷和(he)材料的電學特性，為半導體器(qi)件(jian)的改進提(ti)供重要數(shu)據(ju)。
4.化學工程：
在催化(hua)劑和反應動力學的(de)研究中，SPM技術可以提供直接的(de)表面(mian)反應信息。
QQ：
郵箱：
傳真：
地址：杭州市濱江區江南大道3778號元天科技大廈A6004室
