簡要(yao)描述：提供原子(zi)力(li)顯(xian)(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡定(ding)制服務。葛蘭帕LS-AFM原子(zi)力(li)顯(xian)(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡AFMWorkshop是(shi)一個與倒(dao)置(zhi)光(guang)學(xue)顯(xian)(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡聯合的(de)用(yong)于(yu)生命科(ke)學(xue)和(he)(he)生物材料樣(yang)(yang)品(pin)(pin)研究顯(xian)(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡。 是(shi)一個針式掃描的(de)原子(zi)力(li)顯(xian)(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡。它包括電(dian)子(zi)控制器(qi)，光(guang)杠(gang)桿(gan)光(guang)學(xue)探測，光(guang)學(xue)顯(xian)(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡，用(yong)于(yu)查看(kan)針尖(jian)和(he)(he)樣(yang)(yang)品(pin)(pin)的(de)位(wei)置(zhi)，獲(huo)取圖(tu)像結(jie)果和(he)(he)后處理的(de)軟件(jian)。該系統具有在原子(zi)力(li)顯(xian)(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡XY軸上(shang)相對(dui)于(yu)倒(dao)置(zhi)顯(xian)(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡來定(ding)位(wei)樣(yang)(yang)品(pin)(pin)。樣(yang)(yang)品(pin)(pin)臺適用(yong)于(yu)培養(yang)皿，載(zai)玻(bo)片和(he)(he)標(biao)準AFM樣(yang)(yang)品(pin)(pin)臺.
產品型(xing)號：廠商性(xing)質：生產廠家更新時間：2024-10-10訪 問 量：4420| 品牌 | 其他品牌 | 儀器種類 | 原子力顯微鏡 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 面議 | 產地類別 | 進口 |
| 應用領域 | 食品,化工,能源,電子,制藥 |
葛蘭帕LS-AFM原子力顯微鏡AFMWorkshop工作模式
1. 標(biao)準工作模式：
1.1 輕敲模式(Vibration mode)
1.2 接觸模式(Contact mode)
1.3 相位成像模式(Phase imaging)
1.4 橫向力(li)模式(Lateral force Microscopy LFM)
1.5 力曲線(xian)測(ce)試（Force curve）可測(ce)楊氏(shi)模量(liang)
1.6 納米操控 （Nanomanipulation）
1.7 納米刻蝕 （Nanolithography）
1.8 力矩陣模式(shi) （Force Mapping）
1.9 摩(mo)擦力測試 （Friction Mode）
2. 可(ke)選工作模式：
2.1 磁(ci)力(li)顯微鏡模式（MFM mode）
2.2 靜電(dian)力顯微鏡模(mo)式（EFM mode）
2.3 導電顯微鏡模(mo)式(shi)（C-AFM mode）
2.4 液(ye)相模式 （Liquid scan mode）
AFMWorkshop是專門從(cong)事設(she)計和制造(zao)原(yuan)子(zi)(zi)力顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)的(de)專業化公司(si) 。公司(si)創始人是有30年原(yuan)子(zi)(zi)力顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)經(jing)驗的(de) Paul West博(bo)士，原(yuan)子(zi)(zi)力顯(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)(jing)教(jiao)材《Atomic Forces Microscopes》的(de)作者。
葛蘭帕LS-AFM原子力顯微鏡AFMWorkshop技術參數
掃描范(fan)圍(wei)：100 μm，50 μm，15μm
Z方向(xiang)范圍：17 μm，7 μm
XY方向驅(qu)動(dong)分辨率：0.01 nm
Z方向驅動分辨率：0.003 nm
Z方(fang)向測量噪音水平：0.15 nm
樣(yang)品尺寸(cun)：直(zhi)徑(jing)25mm
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