多(duo)功能原子(zi)力(li)顯微鏡（AtomicForceMicroscope，AFM）是一種重要的(de)納米(mi)尺(chi)度表面(mian)形貌和力(li)學(xue)性(xing)質測量工具(ju)。它利用微小的(de)探針來(lai)掃描樣(yang)品表面(mian)，并通(tong)(tong)過測量應(ying)力(li)或位移來(lai)生(sheng)成高分辨率的(de)圖像。它具(ju)有廣泛的(de)應(ying)用領域，包括材料科(ke)學(xue)、納米(mi)技術、生(sheng)物醫學(xue)等。通(tong)(tong)過不同模塊的(de)組合，可以實現對(dui)材料的(de)形貌、力(li)學(xue)、電(dian)學(xue)和磁學(xue)性(xing)質的(de)綜合研究，為科(ke)學(xue)研究和工程應(ying)用提供了重要的(de)手段。
1.表(biao)面(mian)(mian)(mian)形貌(mao)成像：可(ke)以在(zai)亞埃尺度(du)下獲得樣品(pin)表(biao)面(mian)(mian)(mian)的高分辨率圖像。其工作原(yuan)理基于探(tan)針與樣品(pin)之間的相(xiang)互作用力，不需要(yao)光線，因此(ci)對于透(tou)明、半透(tou)明或反射性材料都適(shi)用。通過掃(sao)描整個(ge)樣品(pin)表(biao)面(mian)(mian)(mian)，可(ke)以獲取樣品(pin)的三維拓(tuo)撲(pu)結構，包括(kuo)表(biao)面(mian)(mian)(mian)粗(cu)糙度(du)、孔洞、顆粒(li)分布等。
2.力(li)(li)譜學：可以測量(liang)樣品(pin)表面(mian)的力(li)(li)學性質。通過(guo)在掃描過(guo)程中測量(liang)探(tan)針所(suo)受到的力(li)(li)，可以獲(huo)取材料(liao)的硬(ying)度、彈性模量(liang)、粘附力(li)(li)等(deng)信息。這對于研究(jiu)納米材料(liao)的力(li)(li)學行為、材料(liao)變形和磨(mo)損(sun)機制等(deng)方面(mian)非常重要(yao)。
3.電(dian)(dian)學(xue)性質測量：可(ke)結合適當的探針(zhen)和電(dian)(dian)學(xue)模塊(kuai)，實現對(dui)材(cai)料的電(dian)(dian)學(xue)性質測量。通過在掃描(miao)過程中施加電(dian)(dian)壓或測量電(dian)(dian)流，可(ke)以研究材(cai)料的電(dian)(dian)導率、電(dian)(dian)容、介電(dian)(dian)常數等(deng)特性。這對(dui)于(yu)研究半導體器件、薄膜材(cai)料和生物(wu)分子等(deng)方(fang)面具有重要意義。
4.磁(ci)(ci)學(xue)性(xing)(xing)(xing)質測(ce)量：還(huan)可(ke)(ke)以通過結(jie)合磁(ci)(ci)力模塊來測(ce)量樣(yang)品的磁(ci)(ci)學(xue)性(xing)(xing)(xing)質。通過在(zai)掃描(miao)過程中感知(zhi)樣(yang)品與磁(ci)(ci)性(xing)(xing)(xing)探針(zhen)之間的相互作用力，可(ke)(ke)以獲取材(cai)料(liao)的磁(ci)(ci)場分(fen)布、磁(ci)(ci)化行為以及局部(bu)磁(ci)(ci)性(xing)(xing)(xing)特(te)性(xing)(xing)(xing)。這對于(yu)研究磁(ci)(ci)性(xing)(xing)(xing)材(cai)料(liao)、納米(mi)磁(ci)(ci)體和磁(ci)(ci)存儲(chu)等領(ling)域非常重要。
5.溫(wen)度(du)依賴性(xing)測(ce)量：一(yi)些先進(jin)的多(duo)功能(neng)原子力顯微鏡還具備溫(wen)度(du)控制(zhi)功能(neng)，可以在不同溫(wen)度(du)下進(jin)行表面(mian)形貌(mao)和(he)力學性(xing)質的測(ce)量。通過調節樣品(pin)溫(wen)度(du)，可以研究材料(liao)的熱膨(peng)脹性(xing)質、相(xiang)變行為(wei)以及(ji)溫(wen)度(du)對材料(liao)性(xing)能(neng)的影響。
QQ：
郵箱：
傳真：
地址：杭州市濱江區江南大道3778號元天科技大廈A6004室
