HR-AFM是一款專業級的多功能原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。

國內生產的HR-AFM原子力顯微(wei)鏡(jing)

標準(zhun)工作模(mo)式(shi)(shi)：輕敲(qiao)模(mo)式(shi)(shi)(Vibration mode)，接觸模(mo)式(shi)(shi) (Contact mode)，相位(wei)成像(xiang)模(mo)式(shi)(shi) (Phase imaging)，橫向(xiang)力(li)(li)模(mo)式(shi)(shi) (LFM)，力(li)(li)曲(qu)線(xian)測(ce)試(shi)（Force Curve），納米操控 （Nanomanipulation），納米刻蝕 （Nanolithography），力(li)(li)矩陣模(mo)式(shi)(shi) （Force Mapping），摩擦力(li)(li)測(ce)試(shi) （Friction Mode）

可選工作模式：導電(dian)(dian)原子力顯微(wei)(wei)鏡(jing)(jing) （C-AFM），磁力顯微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)（MFM），靜電(dian)(dian)力顯微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)（EFM）,掃(sao)描(miao)電(dian)(dian)勢顯微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)（SKPM）。

多功能原子力顯微鏡具有軟件自動進針功能。通過軟件控制Z方向馬達實現探針自動進針

X,Y,Z三軸分(fen)離的(de)掃描器。

掃描范(fan)圍 100×100×17μm

Z軸分辨率0.035nm

樣品臺(tai)尺寸：25mm*25mm*18mm

操作軟件：使用Laview環境語言控制(zhi)，免費提(ti)供操作軟件，并提(ti)供維護及(ji)升(sheng)級

提供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數據分析系統

頂(ding)視系統(tong)光學分辨率≤2微米

視場范(fan)圍從2mm*2mm到300um*300um可調，放大倍率(lv)從45倍到400倍機(ji)械可調

側(ce)視(shi)系(xi)統，提供可視(shi)化下針，可以(yi)通(tong)過(guo)電腦精確觀察控制下針過(guo)程，防止撞針