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簡易型原子力顯微鏡的主要組成部分和適用途徑

更新時(shi)間(jian):2023-07-23瀏覽:1490次

  原(yuan)子(zi)(zi)力(li)(li)顯(xian)微(wei)鏡(AtomicForceMicroscope,簡稱(cheng)AFM)是一種高分辨(bian)率的顯(xian)微(wei)鏡,能夠用來觀察物質表(biao)面的原(yuan)子(zi)(zi)和分子(zi)(zi)結構。它利用了(le)原(yuan)子(zi)(zi)之(zhi)間的相互作用力(li)(li),通過掃描探測器在樣品表(biao)面掃描的方(fang)式來獲取表(biao)面拓撲信息。
  

 

  簡易型原子力顯微鏡主要(yao)由三個基(ji)本部分組成:掃描探針、驅動(dong)系(xi)統和(he)信號檢測(ce)系(xi)統。
  
  1.掃描探針(zhen),它通(tong)常是(shi)一(yi)個非常細小的(de)(de)尖,可(ke)以是(shi)金屬或者硅等材料制成。這(zhe)個尖的(de)(de)尺(chi)寸(cun)通(tong)常在納米尺(chi)度,具有非常尖銳的(de)(de)幾何形狀。掃描探針(zhen)通(tong)過連接(jie)(jie)到彈性桿上,并通(tong)過一(yi)系列精確的(de)(de)機(ji)械和電子機(ji)構與樣品表(biao)面接(jie)(jie)觸。
  
  2.驅動(dong)系(xi)統(tong),它負責使(shi)得掃描探針可(ke)以(yi)在樣品(pin)表面進(jin)行精確的掃描運動(dong)。驅動(dong)系(xi)統(tong)通常由納(na)米級的壓(ya)電陶瓷元(yuan)件(jian)構成,這(zhe)些元(yuan)件(jian)可(ke)以(yi)根據輸入的電壓(ya)信號引起相應的形變(bian)和位移(yi)(yi),從而實(shi)現(xian)掃描探針的移(yi)(yi)動(dong)。
  
  3.信(xin)(xin)號(hao)檢測系(xi)統,它用(yong)(yong)于檢測掃(sao)描(miao)(miao)探針與樣(yang)品表(biao)面之(zhi)間(jian)的(de)相(xiang)互(hu)作用(yong)(yong)力和位移。主要(yao)的(de)信(xin)(xin)號(hao)檢測方(fang)法是通過探測器測量掃(sao)描(miao)(miao)探針的(de)振動頻率(lv)變化或(huo)者光學干涉來獲取相(xiang)關(guan)信(xin)(xin)息。這些信(xin)(xin)號(hao)經過放大和處理后,可以得到樣(yang)品表(biao)面的(de)拓撲圖像。
  
  在(zai)使用(yong)AFM時(shi),首先需要(yao)將樣品固定(ding)在(zai)一個穩(wen)定(ding)的(de)(de)(de)平臺上,然后(hou)通過控制(zhi)系統(tong)調整(zheng)掃描(miao)探針的(de)(de)(de)位置(zhi)。掃描(miao)過程(cheng)中,控制(zhi)系統(tong)會根據(ju)接(jie)收(shou)到(dao)的(de)(de)(de)信號實時(shi)調整(zheng)掃描(miao)探針的(de)(de)(de)位置(zhi),以保持相對(dui)于樣品表面的(de)(de)(de)恒定(ding)距離(li)。最終(zhong),通過記錄并處(chu)理掃描(miao)過程(cheng)中得到(dao)的(de)(de)(de)數據(ju),可(ke)以生成(cheng)一幅高分辨率的(de)(de)(de)樣品表面拓撲圖像。
  
  AFM具有非常(chang)高的(de)分(fen)辨率,可(ke)以(yi)達(da)到原子級(ji)別的(de)分(fen)辨能力(li)。它(ta)還(huan)可(ke)以(yi)在(zai)不同條(tiao)件下(xia)進(jin)行觀(guan)察,例如在(zai)真空、液體(ti)或者氣(qi)體(ti)環境下(xia)。這使得(de)AFM不僅(jin)可(ke)以(yi)用來(lai)研(yan)究凝聚態(tai)物(wu)質的(de)原子結構,還(huan)可(ke)以(yi)用于生物(wu)學、材料(liao)科學等領域的(de)研(yan)究。
  
  雖然(ran)AFM技術相對(dui)復雜,但(dan)隨著技術的(de)不(bu)斷進步,已經出(chu)現(xian)了一些簡易型原子力顯微(wei)鏡。這些儀器(qi)通常采用(yong)(yong)(yong)了更簡化的(de)機(ji)械(xie)和(he)電子設計(ji),以降(jiang)低成本和(he)操作難度。雖然(ran)其分辨(bian)率和(he)功能(neng)可能(neng)不(bu)如高(gao)級(ji)的(de)大型AFM設備,但(dan)對(dui)于一些基(ji)礎研究和(he)教學應用(yong)(yong)(yong)來說(shuo),它們是非常有用(yong)(yong)(yong)的(de)工具。

 

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