簡(jian)要(yao)描述：簡易型原子力(li)顯微(wei)鏡(jing)是(shi)一(yi)(yi)個與倒置光學顯微(wei)鏡(jing)聯合的用(yong)(yong)于生命科學和(he)(he)生物材料樣(yang)(yang)品(pin)(pin)研究顯微(wei)鏡(jing)。 是(shi)一(yi)(yi)個針式掃描的原子力(li)顯微(wei)鏡(jing)。它包括(kuo)電子控制器，光杠桿(gan)光學探測(ce)，光學顯微(wei)鏡(jing)，用(yong)(yong)于查看針尖和(he)(he)樣(yang)(yang)品(pin)(pin)的位置，獲取圖像結果和(he)(he)后(hou)處(chu)理(li)的軟件。該系統具有在原子力(li)顯微(wei)鏡(jing)XY軸上相對于倒置顯微(wei)鏡(jing)來定位樣(yang)(yang)品(pin)(pin)。樣(yang)(yang)品(pin)(pin)臺適用(yong)(yong)于培(pei)養皿，載玻(bo)片和(he)(he)標準AFM樣(yang)(yang)品(pin)(pin)臺.
產品(pin)型號：廠商性質：生產廠家更新時(shi)間：2024-10-10訪 問 量：904| 品牌 | 其他品牌 | 儀器種類 | 原子力顯微鏡 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 面議 | 產地類別 | 進口 |
| 應用領域 | 食品,化工,生物產業,能源,制藥 |
簡易型原子力顯微鏡工作模式：
1.標準工(gong)作模式：
1.1輕敲模式(Vibration mode)
1.2接觸(chu)模(mo)式(Contact mode)
1.3相位成像模式(Phase imaging)
1.4橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)
1.5力曲線測(ce)試（Force curve）可測(ce)楊氏模(mo)量
1.6納米(mi)操控 （Nanomanipulation）
1.7納(na)米(mi)刻蝕 （Nanolithography）
1.8力矩陣模式 （Force Mapping）
1.9摩擦(ca)力(li)測試 （Friction Mode）
2. 可選工作模式：
2.1 磁力顯微鏡模式（MFM mode）
2.2 靜電力顯微(wei)鏡(jing)模(mo)式（EFM mode）
2.3 導電顯(xian)微(wei)鏡模式(shi)（C-AFM mode）
2.4 液(ye)相模式 （Liquid scan mode）
AFMWorkshop是專門(men)從(cong)事設(she)計和(he)制(zhi)造原子力顯微鏡(jing)的(de)專業化公司 。公司創始人(ren)是有30年原子力顯微鏡(jing)經驗的(de) Paul West博士(shi)，原子力顯微鏡(jing)教材《Atomic Forces Microscopes》的(de)作者。
簡易型原子力顯微鏡技術參數
掃描范圍：100 μm，50 μm，15μm
Z方向(xiang)范圍：17 μm，7 μm
XY方向驅動分辨(bian)率(lv)：0.01 nm
Z方向(xiang)驅動分(fen)辨率(lv)：0.003 nm
Z方向測量噪(zao)音水平：0.15 nm
樣品(pin)尺(chi)寸：直徑25mm
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