HR-AFM是一款專業級的高分辨率原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。

國內生產的HR-AFM原子力顯(xian)微鏡

標準工作模(mo)式(shi)：輕敲(qiao)模(mo)式(shi)(Vibration mode)，接(jie)觸(chu)模(mo)式(shi) (Contact mode)，相(xiang)位成像模(mo)式(shi) (Phase imaging)，橫向力(li)模(mo)式(shi) (LFM)，力(li)曲線(xian)測(ce)試（Force Curve），納米操控 （Nanomanipulation），納米刻蝕 （Nanolithography），力(li)矩陣模(mo)式(shi) （Force Mapping），摩擦力(li)測(ce)試 （Friction Mode）

可選工(gong)作模式：導電(dian)原子力顯微(wei)鏡(jing) （C-AFM），磁力顯微(wei)鏡(jing)（MFM），靜電(dian)力顯微(wei)鏡(jing)（EFM）,掃描(miao)電(dian)勢(shi)顯微(wei)鏡(jing)（SKPM）。

高分辨率原子力顯微鏡具有軟件自動進針功能。通過軟件控制Z方向馬達實現探針自動進針

X,Y,Z三(san)軸分(fen)離的掃描器。

掃描范圍 100×100×17μm

Z軸分辨(bian)率0.035nm

樣品(pin)臺尺寸：25mm*25mm*18mm 

操(cao)作(zuo)(zuo)軟件：使用Laview環(huan)境(jing)語言(yan)控制(zhi)，免費(fei)提供操(cao)作(zuo)(zuo)軟件，并提供維護及升級。

提供(gong)Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數據分析系(xi)統

頂視系統(tong)光學分辨率≤2微(wei)米

視場范圍從2mm*2mm到300um*300um可調，放大倍率從45倍到400倍機械(xie)可調

側視系(xi)統，提供可視化下針，可以(yi)通過(guo)電腦(nao)精(jing)確觀察控制下針過(guo)程，防止撞(zhuang)針