針式掃描原子力顯微鏡主要優勢：

1、全新設計的KMD運動學結構，降低了噪音(yin)水平，輕(qing)松實現(xian)原子級分(fen)辨(bian)率。

2、提供可(ke)視化下(xia)針系(xi)統，操作簡單，對新手友好。

3、提高了掃(sao)描(miao)速度，10秒出圖。

針式掃描原子力顯微鏡工作模式

1.標準工作(zuo)模式：

1.1 輕(qing)敲模式(Vibration mode)

1.2 接觸模(mo)式 (Contact mode)

1.3 相位成像(xiang)模式(shi) (Phase imaging)

1.4 橫向力模(mo)式 (Lateral force Microscopy LFM)

1.5 力曲線測(ce)試（Force curve）可測(ce)楊氏模量(liang)

1.6 納米操控(kong) （Nanomanipulation）

1.7 納米刻蝕 （Nanolithography）

1.8 力矩陣模式 （Force Mapping）

1.9 摩擦力測試(shi) （Friction Mode）

2. 可選(xuan)工(gong)作模(mo)式：

2.1 磁力(li)顯微鏡模式（MFM mode）

2.2 靜電(dian)力顯微鏡模式(shi)（EFM mode）

2.3 導(dao)電顯微鏡模(mo)式(shi)（C-AFM mode）

2.4 液相模式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是(shi)(shi)專門從事設計(ji)和制造原子力顯(xian)微鏡(jing)(jing)的(de)專業化公司 。公司創始人是(shi)(shi)有30年(nian)原子力顯(xian)微鏡(jing)(jing)經驗的(de) Paul West博士，原子力顯(xian)微鏡(jing)(jing)教材(cai)《Atomic Forces Microscopes》的(de)作者。

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μm

方向范圍：17 μm，7 μmXY

方向(xiang)驅(qu)動(dong)分辨率：0.01 nm

方向驅動分辨率：0.003 nm

方向(xiang)測量噪音水平：0.03 nm

樣品尺寸：直徑25