便攜式原子力顯微鏡工作模式：

1.標準工作模式：

1.1輕敲模式(Vibration mode)

1.2接觸模式(shi)(Contact mode)

1.3相位成像模式(Phase imaging)

1.4橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲(qu)線測試（Force curve）可測楊氏模量

1.6納米(mi)操控(kong) （Nanomanipulation）

1.7納米(mi)刻蝕 （Nanolithography）

1.8力矩陣模式 （Force Mapping）

1.9摩擦力測試(shi) （Friction Mode）

2. 可選工作模式：

2.1 磁力顯微鏡(jing)模式（MFM mode）

2.2 靜(jing)電(dian)力(li)顯微鏡模式（EFM mode）

2.3 導電顯微(wei)鏡模式（C-AFM mode）

2.4 液相模(mo)式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專(zhuan)門從事設計和制造原(yuan)子(zi)力(li)顯(xian)微鏡(jing)的(de)專(zhuan)業化公司 。公司創始人是有30年原(yuan)子(zi)力(li)顯(xian)微鏡(jing)經驗的(de) Paul West博士，原(yuan)子(zi)力(li)顯(xian)微鏡(jing)教材《Atomic Forces Microscopes》的(de)作者。

便攜式原子力顯微技術參數

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μm

Z方向范(fan)圍(wei)：17 μm，7 μm

XY方向驅動分(fen)辨率(lv)：0.01 nm

Z方向(xiang)驅(qu)動(dong)分辨率：0.003 nm

Z方(fang)向(xiang)測量噪音水平：0.15 nm

樣品(pin)尺(chi)寸：直徑25mm