AFM拉曼聯用系統工作模式：

1.標準工(gong)作模式：

1.1輕敲模式(Vibration mode)

1.2接觸模式(Contact mode)

1.3相(xiang)位成(cheng)像模式(Phase imaging)

1.4橫向(xiang)力模式(Lateral force Microscopy LFM)

1.5力(li)曲線測試(shi)（Force curve）可測楊氏(shi)模量

1.6納米(mi)操控 （Nanomanipulation）

1.7納米刻蝕 （Nanolithography）

1.8力矩(ju)陣模式 （Force Mapping）

1.9摩擦(ca)力測試 （Friction Mode）

2. 可(ke)選工作模式：

2.1 磁力顯微鏡模式（MFM mode）

2.2 靜(jing)電力顯微鏡模式(shi)（EFM mode）

2.3 導電顯微(wei)鏡模式（C-AFM mode）

2.4 液相模式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專門從事設計和制造原(yuan)子力顯(xian)微鏡的專業化(hua)公司(si) 。公司(si)創始(shi)人是有30年原(yuan)子力顯(xian)微鏡經驗的 Paul West博士(shi)，原(yuan)子力顯(xian)微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的作者(zhe)。

AFM拉曼聯用系統技術參數

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μm

Z方(fang)向范圍：17 μm，7 μm

XY方向驅動分辨(bian)率：0.01 nm

Z方向驅動分辨率：0.003 nm

Z方向測量噪(zao)音(yin)水平：0.15 nm

樣品(pin)尺寸：直(zhi)徑25mm