納米掃描探針顯微鏡工作模式：

1. 標準工作模式：

1.1 輕敲模(mo)式(Vibration mode)

1.2 接觸(chu)模(mo)式(Contact mode)

1.3 相位(wei)成像(xiang)模(mo)式(Phase imaging)

1.4 橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)

1.5 力曲線測(ce)試(shi)（Force curve）可測(ce)楊氏模量

1.6 納米操控 （Nanomanipulation）

1.7 納米刻蝕 （Nanolithography）

1.8 力(li)矩(ju)陣模式 （Force Mapping）

1.9 摩(mo)擦力測試 （Friction Mode）

2. 可選工作(zuo)模式：

2.1 磁力顯微鏡(jing)模式（MFM mode）

2.2 靜電力顯微鏡模(mo)式（EFM mode）

2.3 導電顯微(wei)鏡(jing)模(mo)式（C-AFM mode）

2.4 液(ye)相模式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專門從事(shi)設計和制(zhi)造原子(zi)力(li)顯(xian)微(wei)鏡的專業化公(gong)司 。公(gong)司創始人是有(you)30年(nian)原子(zi)力(li)顯(xian)微(wei)鏡經驗的 Paul West博(bo)士(shi)，原子(zi)力(li)顯(xian)微(wei)鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。

納米掃描探針顯微鏡技術參數

掃描范(fan)圍：100 μm，50 μm，15μm

Z方(fang)向范(fan)圍：17 μm，7 μm

XY方向驅動(dong)分辨率：0.01 nm

Z方向驅(qu)動分辨率：0.003 nm

Z方向測(ce)量噪音(yin)水(shui)平：0.15 nm

樣品尺寸：直徑25mm