spm掃描探針顯微鏡是一款專業級的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。

國內生(sheng)產的HR-AFM原子(zi)力顯微鏡

標準工作模式：輕敲模式(Vibration mode)，接觸模式 (Contact mode)，相位成像模式 (Phase imaging)，橫向力模式 (LFM)，力曲線測試（Force Curve），納米操控 （Nanomanipulation），納米刻蝕 （Nanolithography），力矩陣模式 （Force Mapping），摩擦力測試 （Friction Mode）

可選工作模式：導電原(yuan)子力顯(xian)微鏡 （C-AFM），磁力顯(xian)微鏡（MFM），靜(jing)電力顯(xian)微鏡（EFM）,掃描電勢顯(xian)微鏡（SKPM）。

spm掃描探針顯微鏡具有軟件自動進針功能。通過軟件控制Z方向馬達實現探針自動進針

X,Y,Z三軸分離的掃描器

掃描范圍 100×100×17μm

Z軸(zhou)分辨率0.035nm

樣品(pin)臺(tai)尺(chi)寸：25mm*25mm*18mm

操作軟(ruan)件：使用(yong)Laview環境語言控制，免費(fei)提供操作軟(ruan)件，并提供維護及升級

提供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數據分(fen)析系(xi)統

頂視系統光學(xue)分(fen)辨率≤2微米

視場范圍(wei)從2mm*2mm到(dao)300um*300um可調，放大倍率從45倍到(dao)400倍機械(xie)可調

側視(shi)系統，提供可視(shi)化(hua)下(xia)針(zhen)，可以通過(guo)電腦精(jing)確觀察(cha)控(kong)制下(xia)針(zhen)過(guo)程，防止撞(zhuang)針(zhen)