緊湊型原子力顯微鏡工作模式：

1.標準(zhun)工作(zuo)模式：

1.1輕敲模式(shi)(Vibration mode)

1.2接觸模式(Contact mode)

1.3相位(wei)成(cheng)像(xiang)模式(Phase imaging)

1.4橫向力(li)模式(Lateral force Microscopy LFM)

1.5力(li)曲線測試（Force curve）可(ke)測楊氏模量

1.6納米操控 （Nanomanipulation）

1.7納米(mi)刻蝕 （Nanolithography）

1.8力(li)矩陣模式(shi) （Force Mapping）

1.9摩擦力測試 （Friction Mode）

2. 可選(xuan)工(gong)作模(mo)式：

2.1 磁力顯微鏡模式（MFM mode）

2.2 靜電力顯微鏡模(mo)式（EFM mode）

2.3 導電(dian)顯(xian)微鏡(jing)模式(shi)（C-AFM mode）

2.4 液(ye)相模式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專門從事(shi)設計和制造(zao)原(yuan)子(zi)力顯微鏡的(de)專業化公司(si) 。公司(si)創(chuang)始人是有30年原(yuan)子(zi)力顯微鏡經驗的(de) Paul West博士，原(yuan)子(zi)力顯微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的(de)作者。

緊湊型原子力顯微鏡技術參數

掃(sao)描范(fan)圍：100 μm，50 μm，15μmZ

方向范圍(wei)：17 μm，7 μm

XY方向驅(qu)動分(fen)辨率：0.01 nm

Z方(fang)向(xiang)驅動分辨率(lv)：0.003 nm

Z方(fang)向測量噪音水平：0.15 nm

樣品(pin)尺寸：直(zhi)徑25mm